J. W. Iskandar and Y. Nataliani, “Perbandingan Naïve Bayes, SVM, dan k-NN untuk Analisis Sentimen Gadget Berbasis Aspek ”, J. RESTI (Rekayasa Sist. Teknol. Inf.) , vol. 5, no. 6, pp. 1120 - 1126, Dec. 2021.